更新時(shí)間:2024-07-31
EMIC愛(ài)美克磁粉探傷器GT-301EMIC愛(ài)美克 GT-301 磁粉探傷器磁粉探傷用補(bǔ)助機(jī)材
品牌 | 其他品牌 | 貨號(hào) | GT-301 |
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規(guī)格 | 1 | 供貨周期 | 一個(gè)月以上 |
主要用途 | 磁粉探傷器 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保 |
EMIC愛(ài)美克磁粉探傷器GT-301
EMIC愛(ài)美克 GT-301 磁粉探傷器
EMIC愛(ài)美克磁粉探傷器GT-301
EMIC愛(ài)美克磁粉探傷器GT-301
磁粉探傷
4桁表示
3レンジ
オートゼロ機(jī)能
ピークホールド機(jī)能
DC/AC機(jī)能
オートパワーオフ機(jī)能
極性表示付
●磁性材料の殘留磁束密度計(jì)測(cè)
●磁石の簡(jiǎn)易測(cè)定
測(cè)定レンジ | 30mT、300mT、1000mT(3レンジ) |
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測(cè)定磁界周波數(shù) | DC?AC(50/60Hz) |
機(jī)能 | オートゼロ機(jī)能、ピークホールド機(jī)能、オートパワーOFF機(jī)能 |
電源 | 単3電池(4個(gè)) |
校正 | 前校正 |
通過(guò)VMU-LB和固定倍率觀察用相機(jī)卡口的
組合,能夠?qū)ν晃恢靡圆煌堵释瑫r(shí)觀
察。
(低倍率側(cè):2/3型、高倍率側(cè):1/2型等)
通過(guò)與YAG激光(1064nm、532nm、355nm、266nm)物鏡組合,可實(shí)現(xiàn)高精度、高
品質(zhì)加工。
與簡(jiǎn)易支架一起使用,還可作為緊湊型顯微鏡使用。
★保護(hù)膜、有機(jī)薄膜等的剝離
★金、鋁等金屬配線切割、下層圖案的外露
★FPD的各種缺陷修正
★光掩模修正
★標(biāo)記、修剪、圖像形成、局部退火、劃線