更新時(shí)間:2024-07-31
EMIC愛美克渦流探傷儀ET-5042 ET-5032EMIC愛美克ET-5042 ET-5032渦流探傷儀
品牌 | 其他品牌 | 貨號(hào) | ET-5042 |
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規(guī)格 | 1 | 供貨周期 | 一個(gè)月以上 |
主要用途 | 渦流探傷儀 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,電子 |
EMIC愛美克渦流探傷儀ET-5042 ET-5032
EMIC愛美克 ET-5042 ET-5032 渦流探傷儀
矢量LCD顯示屏適合自動(dòng)探傷
配備各種條件設(shè)定顯示(通過直接鍵開關(guān)即可輕松進(jìn)行條件設(shè)定)
通過將自動(dòng)探傷系統(tǒng)集成到現(xiàn)有的檢查運(yùn)輸線中,可以輕松進(jìn)行配置
可以同時(shí)進(jìn)行4個(gè)自動(dòng)探傷
通過可選功能從外部選擇預(yù)先設(shè)置的條件,并且還可以進(jìn)行瑕疵檢測(也提供2ch和3ch)
電源入力 | AC100~240V 50/60Hz *大300VA |
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試験周波數(shù) | 標(biāo)準(zhǔn)256KHz |
感度範(fàn)囲 | 0~60dB 0.2dBステップ可変 |
位相範(fàn)囲 | 0~359.5゜0.5°ステップ |
バランス | 追従式オートバランス(バランススピード8段階可変式) |
外形寸法 | H320mm×H177mm×D280mm(突起部除く) |
質(zhì)量 | 約7.5kg |
EMIC愛美克渦流探傷儀ET-5042 ET-5032
通過VMU-LB和固定倍率觀察用相機(jī)卡口的
組合,能夠?qū)ν晃恢靡圆煌堵释瑫r(shí)觀
察。
(低倍率側(cè):2/3型、高倍率側(cè):1/2型等)
通過與YAG激光(1064nm、532nm、355nm、266nm)物鏡組合,可實(shí)現(xiàn)高精度、高
品質(zhì)加工。
與簡易支架一起使用,還可作為緊湊型顯微鏡使用。
★保護(hù)膜、有機(jī)薄膜等的剝離
★金、鋁等金屬配線切割、下層圖案的外露
★FPD的各種缺陷修正
★光掩模修正
★標(biāo)記、修剪、圖像形成、局部退火、劃線