更新時間:2024-07-30
日本三豐顯微鏡VMU-V 378-505顯微鏡觀察、測量和處理系統(tǒng)化的顯微鏡陣容
品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 1萬-5萬 |
---|---|---|---|
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保 |
日本三豐顯微鏡VMU-V 378-505
使用示例:半導(dǎo)體、電子、液晶相關(guān)等產(chǎn)品的生產(chǎn) 品質(zhì)管理系統(tǒng)、實驗研究裝置使用的光學(xué)系統(tǒng) 外觀檢查系統(tǒng)的嵌入式光學(xué)單元 微生物等運(yùn)動物體的觀察 等
可安裝數(shù)碼相機(jī),通過外部顯示器進(jìn)行觀察和拍攝。 可實現(xiàn)橫向水平、上下顛倒等高自由度的固定方法。 與簡易支架一起使用,還可作為緊湊型顯微鏡使用。 ★金屬、樹脂、印刷面等表面觀察拍攝 ★微量流體分析用光學(xué)系統(tǒng) ★以觀察和分析細(xì)胞、微生物等為目的的光學(xué)系統(tǒng)
VMU
378 系列 — 視頻顯微鏡系統(tǒng)
顯微鏡單元 物鏡(紫外、近紫外、可視、近紅外)
緊湊輕量型顯微鏡,相機(jī)觀察型。適于
檢測金屬表面、半導(dǎo)體、液晶面板、樹脂等。
• 多種鏡體通常用作適用于專業(yè)器械的OEM
(原廠委制) 產(chǎn)品,如那些利用YAG (近紅外、
可見、近紫外或紫外) 激光* 對半導(dǎo)體晶片
進(jìn)行檢測和修補(bǔ)的設(shè)備。
* 不保證激光系統(tǒng)產(chǎn)品的性能和安全性。
應(yīng)用:切割、修整、校正、 給半導(dǎo)體電路做
標(biāo)記/ 薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色
濾光器的修復(fù) (校正錯誤)。還可用作光學(xué)觀
察剖面圖以便探頭分析半導(dǎo)體故障。
• 對于VMU-LB 和 VMU-LB, 顯微鏡主件的剛度
和總體性能與之前的型號相比已有所提高。
• 應(yīng)用*: 晶體硅的內(nèi)部觀察、紅外光譜特征
分析等。
* 需要紅外光源和紅外攝像機(jī)。
• 配有孔徑光闌的遠(yuǎn)心光學(xué)系統(tǒng)是表面照明
光學(xué)系統(tǒng)上的標(biāo)準(zhǔn)配件。于需要均勻
照明的圖像處理。可用于尺寸測量、形狀
檢驗、定位等。
• 設(shè)計和制造均能滿足您的需求,如雙攝影
機(jī)架、雙(低/ 高) 放大率觀察
VMU-V
378-505
Mitutoyo三豐顯微鏡單元
日本三豐物鏡(紫外、近紫外、可視、近紅外)
用于半導(dǎo)體、電子、液晶相關(guān)等產(chǎn)品的生產(chǎn)
品質(zhì)管理系統(tǒng)、實驗研究裝置使用的光學(xué)系統(tǒng)
外觀檢查系統(tǒng)的嵌入式光學(xué)單元
微生物等運(yùn)動物體的觀察 等
可安裝數(shù)碼相機(jī),通過外部顯示器進(jìn)行觀察和拍攝。
可實現(xiàn)橫向水平、上下顛倒等高自由度的固定方法。
與簡易支架一起使用,還可作為緊湊型顯微鏡使用。
★金屬、樹脂、印刷面等表面觀察拍攝
★微量流體分析用光學(xué)系統(tǒng)
★以觀察和分析細(xì)胞、微生物等為目的的光學(xué)系統(tǒng)
M Plan Apo NIR系列等支持紅外區(qū)的物鏡組合,可在紅外線下實
現(xiàn)可見光下做不到的非破壞性檢查。
★液晶薄膜、硅基板等的厚度測量
★MEMS內(nèi)部的非破壞評價、三維安裝評價
★半導(dǎo)體封裝(IC)的內(nèi)部觀察、晶圓鍵合空洞評價傳感器
★紅外分光特性分析
通過VMU-LB和固定倍率觀察用相機(jī)卡口的
組合,能夠?qū)ν晃恢靡圆煌堵释瑫r觀
察。
(低倍率側(cè):2/3型、高倍率側(cè):1/2型等)
通過與YAG激光(1064nm、532nm、355nm、266nm)物鏡組合,可實現(xiàn)高精度、高
品質(zhì)加工。
與簡易支架一起使用,還可作為緊湊型顯微鏡使用。
★保護(hù)膜、有機(jī)薄膜等的剝離
★金、鋁等金屬配線切割、下層圖案的外露
★FPD的各種缺陷修正
★光掩模修正
★標(biāo)記、修剪、圖像形成、局部退火、劃線
憑借長動作距離設(shè)計的物鏡,實現(xiàn)優(yōu)異的操作性。
與定位器、探針臺等組合。
通過與激光加工裝置組合,還可支持不良分析→部分修正無縫銜接的系統(tǒng)。
此外,還提供支持隔著玻璃的、真空內(nèi)的外觀檢查的系統(tǒng)
日本三豐Mitutoyo 378-888-6物鏡M Plan Apo NUV HR 50X
日本三豐Mitutoyo 378-868-5 50X物鏡M Plan Apo NIR B
日本三豐Mitutoyo 378-867-5 20X物鏡M Plan Apo NIR B
日本三豐Mitutoyo 378-864-5 100X物鏡M Plan Apo NIR HR
日本三豐Mitutoyo 378-863-5 50X物鏡M Plan Apo NIR HR
日本三豐Mitutoyo 378-848-3 50X物鏡G Plan Apo
日本三豐Mitutoyo 378-847 20X物鏡G Plan Apo
日本三豐Mitutoyo 378-846-7 100X物鏡BD Plan Apo HR
日本三豐Mitutoyo 378-845-7 50X物鏡BD Plan Apo HR
日本三豐Mitutoyo 378-844-15物鏡M Plan UV 10X
日本三豐Mitutoyo 378-843-7 100X物鏡BD Plan Apo SL
日本三豐Mitutoyo 378-843-5 100X物鏡BD Plan Apo SL
日本三豐Mitutoyo 378-842-7 80X物鏡BD Plan Apo SL
日本三豐Mitutoyo 378-841-7 50X物鏡BD Plan Apo SL
日本三豐Mitutoyo 378-840-7 20X物鏡BD Plan Apo SL
日本三豐Mitutoyo 378-840-5 20X物鏡BD Plan Apo SL
日本三豐Mitutoyo 378-839-5物鏡M Plan UV 80X
日本三豐Mitutoyo 378-838-8物鏡M Plan UV 50X
日本三豐Mitutoyo 378-837-8物鏡M Plan UV 20X
日本三豐Mitutoyo 378-837-7物鏡M PLAN UV BF 20X
日本三豐Mitutoyo 378-836-7 100X物鏡BD Plan Apo
日本三豐Mitutoyo 378-835-7 50X物鏡BD Plan Apo
日本三豐Mitutoyo 378-834-7 20X物鏡BD Plan Apo
日本三豐Mitutoyo 378-833-7 10X物鏡BD Plan Apo
日本三豐Mitutoyo 378-832-7 5X物鏡BD Plan Apo
日本三豐Mitutoyo 378-831-7 2X物鏡BD Plan Apo
日本三豐Mitutoyo 378-830-7 7.5X物鏡BD Plan Apo
日本三豐Mitutoyo 378-829-5物鏡LCD Plan Apo NIR 100X
日本三豐Mitutoyo 378-828-5物鏡LCD Plan Apo NIR 50X
日本三豐Mitutoyo 378-827-5物鏡LCD Plan Apo NIR 20X
日本三豐Mitutoyo 378-826-5物鏡M Plan Apo NIR 100X
日本三豐Mitutoyo 378-824-5 20X物鏡M Plan Apo NIR
日本三豐Mitutoyo 378-823-5 10X物鏡M Plan Apo NIR
MITSUBISHI電流表YS-8NAA BR 0-60-180A
SHINKO神港溫度傳感器PCE-707L
TOEI卡尺CR1525
OJIDEN腳踏開關(guān)OFL-ZG-SM2
LINE萊茵溫度計KF-14A
LINE萊茵溫度計KM-62A
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OJIDEN腳踏開關(guān)OFL-1-SM2C
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DKKPH標(biāo)準(zhǔn)液143F191
DKKPH標(biāo)準(zhǔn)液143F192
DKKPH標(biāo)準(zhǔn)液143F193
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HIOKI無線通用單元LR8511
Shinetsu信越熱縮管ST-15DG-0.5
TML GFLT-1A-11-002LE-F
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TOA-DKK電極5613-5F
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ADVANTECH濾紙00023600
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Hioki測試線9455
Hioki測試線L2233
Mitutoyo環(huán)規(guī)177-314(R-62)
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Mitutoyo量塊611506-02
Mitutoyo充電器UN305-7508
Mitutoyo微分頭110-105
MIYACHI壓力傳感器MA-522B
Mitutoyo數(shù)據(jù)線05CZA662
MIYACHI電流檢測儀MM-315B-00-00 100V
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Funatech綠光片F(xiàn)Y-18N用
Mitutoyo物鏡378-822-5
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ACCRETECH測針DM43827
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RENISHAW機(jī)床測頭OMP60
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