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便攜式薄膜厚度計(jì)，易于提高薄膜厚度測(cè)量的生產(chǎn)效率，這很容易 QNIx系列產(chǎn)品只能使用超輕型緊湊型儀器和探頭測(cè)量薄膜厚度，而無(wú)需攜帶厚膜厚度計(jì)。日本電測(cè)膜厚計(jì)QNIx系列 沒(méi)有電纜通過(guò)無(wú)線測(cè)量。除了便于將測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸?shù)絺€(gè)人計(jì)算機(jī)之外，它還有助于防止測(cè)量期間墜落事故。

新系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)從薄到厚的高精度測(cè)量 ·使用PC大大提高了操作能力和功能· 從薄到厚的高精度 日本電測(cè)膜厚計(jì)BTC-221 · 也可以在小面積部分進(jìn)行測(cè)量·特殊校準(zhǔn)曲線易于編程 ·計(jì)數(shù)校正易于預(yù)熱GM管沒(méi)必要

可在短時(shí)間內(nèi)（0.7秒）測(cè)量絕緣體上的金屬膜，具有高精度 在0.7秒內(nèi)測(cè)量絕緣體上的金屬薄膜 - 讀取屏幕 - 易于校準(zhǔn)和測(cè)量 - 可以立即查看圖形，輪廓等 - 異常值檢測(cè)功能 日本電測(cè)膜厚計(jì)RST-231

薄型便攜式薄膜厚度計(jì)，可通過(guò)短時(shí)間測(cè)量滿足時(shí)代需求 ·重量輕，體積小2.0 kg· 測(cè)量開(kāi)始的同時(shí)開(kāi)關(guān)，測(cè)量時(shí)間在1秒以內(nèi) ·高穩(wěn)定性（±1％）高精度 ·無(wú)損，因?yàn)榫w振蕩檢測(cè)方法 ·直讀式轉(zhuǎn)換不必要 日本電測(cè)膜厚計(jì)D-20

通過(guò)晶體振蕩 ，曲面/球面對(duì)也可以實(shí)現(xiàn)高精度和短測(cè)量時(shí)間 ·測(cè)量值顯示為數(shù)字型，易于讀取 ·開(kāi)啟時(shí)測(cè)量同時(shí)開(kāi)始，測(cè)量時(shí)間小于1秒 ·高穩(wěn)定性（±1％）高精度 · 石英振蕩法無(wú)損檢測(cè) ·可直接讀取因?yàn)檗D(zhuǎn)換是不必要的 日本電測(cè)膜厚計(jì)DS-110

高速和可操作性 短時(shí)無(wú)損測(cè)量非常適合檢測(cè) ·1秒內(nèi)無(wú)損測(cè)量，適合檢測(cè) ·使用PC校準(zhǔn)·測(cè)量等簡(jiǎn)單操作 ·只需將探頭放在被測(cè)物體上并釋放即可自動(dòng)獲取測(cè)量值 ·特性曲線（校準(zhǔn)曲線） 每個(gè)頻道都有70個(gè)標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)存，公司名稱(chēng)，部件號(hào)，批號(hào) 日本電測(cè)膜厚計(jì)DMC-211

輕巧，緊湊的機(jī)身高 可操作性和各種電鍍測(cè)量功能 - 重量輕3.0公斤，機(jī)身小巧 - 可在任何電鍍范圍 內(nèi)測(cè)量 - 增加了高靈敏度范圍 - 寬范圍±15％ 碳化物范圍-C-墊片范圍標(biāo)準(zhǔn) 日本電測(cè)膜厚計(jì)CT-3

0.006至300微米， 可以高精度測(cè)量各種厚度的多層電鍍 - 易于操作的屏幕，操作簡(jiǎn)便 - 與傳統(tǒng)相比，電流精度大大提高 - 可以確定 測(cè)量部件的表面處理方法 - 多層膜可以設(shè)置多5層的 測(cè)量條件 - 測(cè)量通道可以注冊(cè)多達(dá)50個(gè)通道 日本電測(cè)膜厚計(jì)CT-4

簡(jiǎn)單，功能增強(qiáng)·Windows規(guī)格，數(shù)據(jù)處理簡(jiǎn)單 ·多可注冊(cè)50個(gè)測(cè)量通道 ·多層膜可設(shè)置多達(dá)5層的測(cè)量條件 ·出現(xiàn)異常值時(shí)，測(cè)量值不足報(bào)告顯示和警告聲音 日本電測(cè)膜厚計(jì)GCT-311

TQT-2NB57M2G4 TQT-5NB57M2G4 TQT-10NB57M2G4 TQT-20NB57M2G4 TQT-30NB57M2G4 TQT-50NB57M2G4 TQT-70NB57M2G4 日本電測(cè)膜厚計(jì)COSMOS-3X