A-5000-7807雷尼紹測針三坐標測針

A-5000-7807雷尼紹測針三坐標測針

TP200 / TP200B測頭本體 TP200采用微應變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。TP200B采用的技術與TP200相同，但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標測量機傳導振動或在移動速度很高的情況下使用長測針所引發(fā)的誤觸發(fā)問題。請注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄/星形測針。 
TP200規(guī)格摘要TP200TP200B
主要應用需要高精度的數(shù)控坐標測量機。與TP200一樣，但當出現(xiàn)誤觸發(fā)事件時。傳感器方向六軸：±X、±Y、±Z六軸：±X、±Y、±Z單向重復性 (2s µm)觸發(fā)水平1：0.40 µm觸發(fā)水平2：0.50 µm觸發(fā)水平1：0.40 µm觸發(fā)水平2：0.50 µmXY（2D）輪廓形式測量偏差觸發(fā)水平1：±0.80 µm 觸發(fā)水平2：±0.90 µm觸發(fā)水平1：±1 µm 觸發(fā)水平2：±1.2 µmXYZ (3D) 輪廓測量偏差觸發(fā)水平1：±1 µm 觸發(fā)水平2：±1.40 µm觸發(fā)水平1：±2.50 µm 觸發(fā)水平2：±4 µm測針交換的重復性SCR200：±0.50 µm（zui大） 手動：±1 µm（zui大）SCR200：±0.50 µm（zui大） 手動：±1 µm（zui大）測力（測尖）XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 NXY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N超程測力（位移為0.50 mm時）XY平面（SF/EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF/EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 NXY平面（SF/EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF/EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N重量（測頭傳感器和模塊）22 g22 gzui長加長桿（如配在PH10系列測座上）300 mm300 mm推薦的zui大測針長度（M2測針系列）SF/EO模塊：50 mm鋼質至100 mm GFLF模塊：20 mm鋼質至50 mm GFSF/EO模塊：50 mm鋼質至100 mm GFLF模塊：20 mm鋼質至50 mm GF安裝方式M8螺紋M8螺紋適合的接口PI200、UCCPI200、UCC測針模塊交換架自動：SCR200手動：MSR1自動：SCR200 手動：MSR1測針系列M2M2
TP200測針模塊測針模塊通過高重復性機械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上，具有快速測針交換功能和測頭超程保護功能。有三種測針模塊可供選擇，具有兩種不同的超程測力。模塊SF（標準測力）LF（低測力）EO（長超程）
應用一般使用。小直徑測球或必須使用zui小測力的場合。額外超程使坐標測量機在較高的碰觸速度下安全停止并回退。留言測針zui長可達100 mm，測球直徑 > 1 mm。測球直徑小于1 mm。與SF的超程測力相同。測頭Z軸的額外超程為8 mm。
英國雷尼紹
手動測座MH20i Renishaw TP20 測頭 Renishaw TP200 測頭