更新時(shí)間:2024-08-03
TQ-50NG16TQ-100NG16TQ-150NG16TQ-200NG16TQ-300NG16TQ-500NG16日本電測膜厚計(jì)EX-851
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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選擇兩種具有自動(dòng)對(duì)焦功能的測量模式,使測量工作更加順暢
·全自動(dòng)對(duì)焦模式
レーザー將測量對(duì)象設(shè)置在激光指示器的照射位置并關(guān)閉門,
平臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)并自動(dòng)進(jìn)行測量。
·半自動(dòng)對(duì)焦模式
同様與上述全自動(dòng)對(duì)焦模式一樣,當(dāng)設(shè)置要測量的對(duì)象并
關(guān)閉門時(shí),平臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)
并執(zhí)行對(duì)焦操作。
自動(dòng)對(duì)焦
將測量單元放置在激光指示器的位置,將其自動(dòng)移動(dòng)到測量值,并僅通過關(guān)閉門進(jìn)行測量。測量后,當(dāng)門打開時(shí),舞臺(tái)自動(dòng)返回。
自動(dòng)測量階段
我們通過將鼠標(biāo)放在測量位置來實(shí)現(xiàn)快速對(duì)齊。另外,如果登記測量位置,也可以進(jìn)行連續(xù)自動(dòng)測量。通過通道鏈接對(duì)應(yīng)各種模式的坐標(biāo)校正。標(biāo)準(zhǔn)板校準(zhǔn)也可以自動(dòng)測量。
雙濾鏡采用
除數(shù)字濾波器外,機(jī)械濾波器(雙濾波器)可用于在條件下進(jìn)行測量,以便始終獲得精度。
完整的報(bào)告準(zhǔn)備功能
通過采用MS-Windows軟件,您可以輕松捕獲測量屏幕并具有完整的報(bào)告創(chuàng)建功能。即使使用測量,多任務(wù)也可以進(jìn)行其他處理,包括創(chuàng)建報(bào)告。
5種內(nèi)臟器官
準(zhǔn)直器的小直徑為0.1φmm,可以測量極小的部件。標(biāo)準(zhǔn)·0.1,0.2,0.5,1.0,2.0
此外,還有兩種特殊規(guī)格可供選擇。
·
0.05,0.1,0.2,0.3,0.5·0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5
自診斷功能和X射線管維護(hù)功能
自診斷功能可以快速解決設(shè)備故障。此外,還增加了X射線管使用時(shí)間和耐久時(shí)間顯示功能,以支持維護(hù)安全。
薄膜厚度測量期間的光譜顯示
使用多通道進(jìn)行頻譜分析高速處理可實(shí)現(xiàn)對(duì)象的簡單操作和頻譜顯示。(處理速度約2-3秒)
顯示測量單位監(jiān)視器圖像
將X射線照射單元裝載在Windows屏幕上并顯示X射線照射單元。準(zhǔn)直器使得可以改變放大率。
目視顯示待測物體的鍍層附著力分布
三維圖形顯示使得可以一目了然地理解被測物體的鍍層厚度分布。
關(guān)于Be window X射線管(選項(xiàng))的性能提高(高精度)
我們?yōu)閄射線熒光膜厚度計(jì)EX-731準(zhǔn)備了Be X射線管(可選)
。通過使用該選項(xiàng),
可以在Cr測量和Ni測量中大大提高重復(fù)測量的精度。
關(guān)于績效改進(jìn)的說明
高能量(高原子序數(shù))Sn
的測量與以前相同,但是在測量低能量(低原子序數(shù))Cr和Ni的情況下,取決于膜厚度,Cr超過3倍,Ni超過2倍或更多重復(fù)
倒鉤精度有所改善。如果在兩個(gè)層測量表面層的Au是略中間
層的Ni已經(jīng)由約20%提高接收貢獻(xiàn)的精度。熒光X射線法的厚度計(jì)
在生成其中獲得的熒光X射線強(qiáng)度的過程中的情況下,重復(fù)測定精度(標(biāo)準(zhǔn)偏差)
是由于統(tǒng)計(jì)波動(dòng)確定的,施加成為窗口的X射線管(可選)
由此可知,與以往的標(biāo)準(zhǔn)機(jī)相比,在Cr的情況下,獲得了約9倍以上的熒光X射線強(qiáng)度
。因此,可以在短時(shí)間內(nèi)以與傳統(tǒng)相同的精度進(jìn)行測量。
請考慮使用此Be窗口X射線管。
測量屏幕
自動(dòng)測量位置檢查
直方圖
3D圖形
類型 | 自動(dòng)舞臺(tái) | ||
測量頭 | 尺寸(mm) | 170 x 110 | |
移動(dòng)量 | X(mm) | 200 | |
Y(mm) | 200 | ||
Z(mm) | 90 | ||
測量物體高度() | 90 | ||
尺寸(mm) | 685(寬)x 520(深)x 685(高) | ||
重量(kg) | 85 | ||
樣品負(fù)荷(kg) | 五 | ||
計(jì)算機(jī) | 尺寸(mm) | 主體182(W)×383(D)×372(H) /監(jiān)視器412(W)×415(D)×432(H) | |
重量(kg) | Body 6.8 / Monitor 2.8 | ||
打印機(jī) | 重量(kg) | 3.4 | |
電源 | AC 100 V±10 V. |
注意:規(guī)格如有更改,恕不另行通知。
X射線源 | 油浸式緊湊型微焦X射線管 靶:鎢 管電壓50kV 管電流可變 |
照射方法 | 頂部垂直照射方法 |
探測器 | 比例計(jì)數(shù)器 |
準(zhǔn)直器 | 五種類型(自動(dòng)切換型) 0.1,0.2,0.5,1.0,2.0φmm (可選):0.05,0.1,0.2,0.3,0.5 ,φ :0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5φ |
樣品觀察 | CCD彩色攝像頭(自動(dòng)對(duì)焦) |
計(jì)算機(jī) | PC / AT兼容 17英寸彩色顯示器 |
打印機(jī) | 噴墨打印機(jī) |
測量目標(biāo) | 原子序數(shù)22(Ti)至82(Pb) 原子序數(shù)21或更小可通過吸收法測量 |
過濾器 | 兩種類型(Co,Ni)自動(dòng)切換 |
可衡量的范圍 | 原子No.22-24:0.02至約20μm 原子序數(shù)25至40:0.01至約30μm 原子序號(hào)41至51:0.02至約70μm 原子序號(hào)52至82:0.05至約10μm |
校準(zhǔn)曲線 | 校準(zhǔn)曲線自動(dòng)創(chuàng)建功能 多點(diǎn)校準(zhǔn)曲線 |
校正功能 | 基礎(chǔ)修正 |
應(yīng)用 | 單層電鍍測量雙層 電鍍測量 三層電鍍測量 合金膜厚度成分比同時(shí)測量 化學(xué)鍍鎳測量 |
測量功能 | 自動(dòng)測量 輸出格式設(shè)定 光譜測量 2點(diǎn)距離測量 |
自動(dòng)表功能 | 自動(dòng)對(duì)焦 |
數(shù)據(jù)處理功能 | 統(tǒng)計(jì)顯示:平均值,標(biāo)準(zhǔn)差,值,小值,范圍,Cp,Cpk 直方圖 配置文件顯示 測量數(shù)據(jù)3D顯示xR 控制圖 |
安全功能 | X射線電源鍵開關(guān) 故障安全功能 |
其他功能 | 舞臺(tái)坐標(biāo)顯示 密碼功能 維護(hù) |
TQ-50NG16
TQ-100NG16
TQ-150NG16
TQ-200NG16
TQ-300NG16
TQ-500NG16
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TQ-4KNG16
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TQ-7KNG16
TQ-10KNG16
TQR-200MNA32
TQR-500MNA32
TQR-1NA32
TQR-2NA32
TQR-3NA32
TQR-5NA32
TQT-2NB57M2G4
TQT-5NB57M2G4
TQT-10NB57M2G4
TQT-20NB57M2G4
TQT-30NB57M2G4
TQT-50NB57M2G4
TQT-70NB57M2G4
LC-10KNE450
LC-20KNE450
LT-5KNG56
LT-10KNG56
LT-20KN
PG-200MPG7
PG-300MPG7
PG-400MPG7
日本電測膜厚計(jì)EX-851 日本電測膜厚計(jì)EX-851