Mitutoyo三豐M Plan Apo 50x物鏡378-805-3

 明視場(chǎng)用物鏡
M Plan Apo /
M Plan Apo HR
VMU WIDE VMU FS70 MF-U Hyper MF-U

 品 名貨號(hào)
數(shù)值孔徑
NA
工作距離
WD(mm)
焦距
f(mm)
分辨力
R(μm)
物鏡單體的 焦深
±D.F.(μm)
實(shí)際視場(chǎng)(mm) 重量
ø24目鏡 (g) 1/2型
相機(jī) (縱×橫)
M Plan Apo
M Plan Apo 1× ※1 378-800-3 0.025 11.0 200 11.0 440 24 4.8×6.4 300
M Plan Apo 2× ※2 378-801-6 0.055 34.0 100 5.0 91 12 2.4×3.2 220
M Plan Apo 5× 378-802-6 0.14 34.0 40 2.0 14 4.8 0.96×1.28 230
M Plan Apo 7.5× 378-807-3 0.21 35.0 26.67 1.3 6.2 3.6 0.64×0.85 240
M Plan Apo 10× 378-803-3 0.28 34.0 20 1.0 3.5 2.4 0.48×0.64 240
M Plan Apo 20× 378-804-3 0.42 20.0 10 0.7 1.6 1.2 0.24×0.32 270
M Plan Apo 50× 378-805-3 0.55 13.0 4 0.5 0.9 0.48 0.10×0.13 290
M Plan Apo 100× 378-806-3 0.70 6.0 2 0.4 0.6 0.24 0.05×0.06 320

Mitutoyo三豐顯微鏡單元
Mitutoyo三豐物鏡 紫外、近紫外、可視、近紅外

Mitutoyo三豐顯微鏡單元
日本三豐物鏡(紫外、近紫外、可視、近紅外)
用于半導(dǎo)體、電子、液晶相關(guān)等產(chǎn)品的生產(chǎn)
品質(zhì)管理系統(tǒng)、實(shí)驗(yàn)研究裝置使用的光學(xué)系統(tǒng)
外觀檢查系統(tǒng)的嵌入式光學(xué)單元
微生物等運(yùn)動(dòng)物體的觀察 等
可安裝數(shù)碼相機(jī)，通過(guò)外部顯示器進(jìn)行觀察和拍攝。
可實(shí)現(xiàn)橫向水平、上下顛倒等高自由度的固定方法。
與簡(jiǎn)易支架一起使用，還可作為緊湊型顯微鏡使用。
★金屬、樹脂、印刷面等表面觀察拍攝
★微量流體分析用光學(xué)系統(tǒng)
★以觀察和分析細(xì)胞、微生物等為目的的光學(xué)系統(tǒng)

M Plan Apo NIR系列等支持紅外區(qū)的物鏡組合，可在紅外線下實(shí)
現(xiàn)可見光下做不到的非破壞性檢查。
★液晶薄膜、硅基板等的厚度測(cè)量
★MEMS內(nèi)部的非破壞評(píng)價(jià)、三維安裝評(píng)價(jià)
★半導(dǎo)體封裝(IC)的內(nèi)部觀察、晶圓鍵合空洞評(píng)價(jià)傳感器
★紅外分光特性分析

通過(guò)VMU-LB和固定倍率觀察用相機(jī)卡口的
組合，能夠?qū)ν晃恢靡圆煌堵释瑫r(shí)觀
察。
(低倍率側(cè)：2/3型、高倍率側(cè)：1/2型等)

通過(guò)與YAG激光(1064nm、532nm、355nm、266nm)物鏡組合，可實(shí)現(xiàn)高精度、高
品質(zhì)加工。
與簡(jiǎn)易支架一起使用，還可作為緊湊型顯微鏡使用。
★保護(hù)膜、有機(jī)薄膜等的剝離
★金、鋁等金屬配線切割、下層圖案的外露
★FPD的各種缺陷修正
★光掩模修正
★標(biāo)記、修剪、圖像形成、局部退火、劃線

憑借長(zhǎng)動(dòng)作距離設(shè)計(jì)的物鏡，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的操作性。
探針臺(tái)等組合。
通過(guò)與激光加工裝置組合，還可支持不良分析→部分修正無(wú)縫銜接的系統(tǒng)。
此外，還提供支持隔著玻璃的、真空內(nèi)的外觀檢查的系統(tǒng)